首页
产品中心
锁相放大器
锁相放大器
锁相放大器模块
锁相放大器电路板
信号平均器
锁相环
PID反馈控制器
单光子探测
时间相关单光子计数器(TCSPC)
单光子探测器
超导纳米线单光子探测器
光电接收器
量子信号测控设备
量子位控制器
量子信号分析仪
可编程量子系统控制器
量子测控一体机
微波信号合成与分析平台
信号放大器
电压放大器
电流放大器
高压放大器
射频放大器
电荷放大器
功率放大器
激光器
飞秒光纤激光器
皮秒脉冲激光器
精密源
任意波形发生器
精密电压源
精密电流源
任意脉冲序列发生器
功率信号源
滤波器
低温滤波器(MFT)
荧光寿命分析
FLIM 恒定分数鉴别器
FLIM 数据采集卡
FLIM 光纤耦合式皮秒脉冲激光模块
FLIM 单光子SPAD探测器
物性测试设备
交流阻抗测试仪
薄膜面阻分析设备
在线监测系统
解决方案
利用实时控制提高NV色心测试
|
生物电阻抗谱
|
霍尔效应
|
OPM光泵浦磁强计
|
传感器的阻抗测量
|
MEMS 陀螺仪
|
基于MEMS的传感器
|
超导量子计算测量方案
|
时域热反射谱(TDTR)
|
光学锁相环
|
什么是 FLIM 荧光寿命成像?
|
传感器的阻抗测量
|
基于 NV 色心系综的磁强测量
|
微流控/单细胞检测和分类
|
扫描近场显微术 (SNOM)
|
开尔文探针力显微镜 (KPFM)
|
泵浦-探测光谱
|
深能级瞬态光谱检测(DLTS)
|
光致发光
|
激光电压探测和成像
|
双频共振跟踪 (DFRT-AFM)
|
非接触式原子力显微镜 (NC-AFM)
|
多频原子力显微镜 (MF-AFM)
|
金刚石氮-空位 (NV) 色心的相干控制
|
荧光寿命成像
|
可调谐半导体激光吸收光谱
|
拉曼光谱
|
太赫兹时域光谱
|
量子反馈控制
|
基于自旋的量子计算
|
原子力显微镜成像
|
动态电阻抗测试系统
技术中心
实验室及演示中心
应用中心
下载中心
常见问题
技术支持
关于我们
新闻动态
最新资讯
产品新闻
英才招聘
联系我们
010-58237058
产品中心
解决方案
技术中心
关于我们
新闻动态
英才招聘
联系我们
锁相放大器
锁相放大器
锁相放大器模块
锁相放大器电路板
信号平均器
锁相环
PID反馈控制器
单光子探测
时间相关单光子计数器(TCSPC)
单光子探测器
超导纳米线单光子探测器
光电接收器
量子信号测控设备
量子位控制器
量子信号分析仪
可编程量子系统控制器
量子测控一体机
微波信号合成与分析平台
信号放大器
电压放大器
电流放大器
高压放大器
射频放大器
电荷放大器
功率放大器
激光器
飞秒光纤激光器
皮秒脉冲激光器
精密源
任意波形发生器
精密电压源
精密电流源
任意脉冲序列发生器
功率信号源
滤波器
低温滤波器(MFT)
荧光寿命分析
FLIM 恒定分数鉴别器
FLIM 数据采集卡
FLIM 光纤耦合式皮秒脉冲激光模块
FLIM 单光子SPAD探测器
物性测试设备
交流阻抗测试仪
薄膜面阻分析设备
在线监测系统
霍尔效应
|
扫描近场显微术 (SNOM)
|
开尔文探针力显微镜 (KPFM)
|
双频共振跟踪 (DFRT-AFM)
|
非接触式原子力显微镜 (NC-AFM)
|
多频原子力显微镜 (MF-AFM)
|
原子力显微镜成像
|
深能级瞬态光谱检测(DLTS)
|
光致发光
|
激光电压探测和成像
|
什么是 FLIM 荧光寿命成像?
|
荧光寿命成像
|
时域热反射谱(TDTR)
|
光学锁相环
|
泵浦-探测光谱
|
可调谐半导体激光吸收光谱
|
拉曼光谱
|
太赫兹时域光谱
|
利用实时控制提高NV色心测试
|
超导量子计算测量方案
|
基于 NV 色心系综的磁强测量
|
金刚石氮-空位 (NV) 色心的相干控制
|
量子反馈控制
|
基于自旋的量子计算
|
OPM光泵浦磁强计
|
传感器的阻抗测量
|
MEMS 陀螺仪
|
基于MEMS的传感器
|
生物电阻抗谱
|
传感器的阻抗测量
|
微流控/单细胞检测和分类
|
动态电阻抗测试系统
实验室及演示中心
应用中心
下载中心
常见问题
技术支持
最新资讯
产品新闻
首页
>
解决方案
> 泵浦-探测光谱
SOLUTION
泵浦-探测光谱
/
<
>
010-58237058